MVP GEM Compact AOI to rewolucyjny lekki system inspekcji optycznej. Niezrównana jakość dostępna dotychczas jedynie w zaawansowanych systemach in-line.
krótki czas programowania wydajna inspekcja do 13cm2/sek technologia Tri-color PCB 306x400mm najniższy odsetek fałszywych błędów inspekcja pasty 2D
